依據標準：
IEC 61000-4-4/GB T 17626.4：電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗  

脈沖群抗擾度試驗，是模擬電網(wǎng)中眾多機械開(kāi)關(guān)在切換感性負載時(shí)所產(chǎn)生的干擾。這類(lèi)干擾的特點(diǎn)是：成群出現的窄脈沖、脈沖的重復頻率較高（kHz-MHz級）、上升沿陡峭（ns級）、單個(gè)脈沖的持續時(shí)間短暫（10-100ns級）、幅度達到kV級。成群出現的窄脈沖可對半導體器件的結電容充電，當能量積累到一定程度后可引起線(xiàn)路或設備出錯。試驗時(shí)將脈沖疊加在電源線(xiàn)（通過(guò)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò )）和通信線(xiàn)路（通過(guò)電容耦合夾），對設備形成干擾。

受試設備（EUT）的試驗部分主要包括設備的供電電源端口、保護接地（PE）、信號和控制端口。

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